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晶圆片附着痕量有机物分析(GCMS)

晶圆片附着痕量有机物分析(GCMS)

  • 分类:非金属制造
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  • 来源:
  • 发布时间:2021-03-13 18:53
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【概要描述】

晶圆片附着痕量有机物分析(GCMS)

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与硅片所接触的材料,设备,人员等外界环境都包含有机化合物。在该实例中,一块8英寸硅片被压覆于一块晶片加热板上。晶片表面所产生的挥发性气体可以通过一台GC-MS进行收集和分析。

通常,塑料材质的零配件会检测出包含C12(1-十二碳烯)、环甲基硅氧烷(n=6)和二羧酸酯组分。

气相色谱-质谱联用仪

通过加热晶圆片,分析有机物挥发出的气体组分所对应的色谱图,进而对附着于晶片的有机物进行定性分析。样品可以通过一个气体收集器进行采集。此检测系统可以实现ng级样品浓度的定量分析。

 

 

 

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