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KOSAKA 台阶仪 | 薄膜测厚仪 | 微细形状测定机ET10000

KOSAKA 台阶仪 | 薄膜测厚仪 | 微细形状测定机ET10000

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产品描述
参数
技术参数
应用领域

产品概述:
● 对应大面积样品段差测定的全自动机型。
● 机台尺寸可根据样品/工件尺寸订制。
● 针对生产线全自动大型工件开发,可搭配机械手臂自动进退样品。
● 订制型机型详细参数请与我公司联系。

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台阶仪/膜厚仪ET10000产品参数

重现性 1σ 1nm
测定范围 Z:100um
分解能 Z:0.1nm X:0.1um
测定力 0.5UN~500UN (0.05mg-50mg)

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发布时间:2021-02-23 11:37:04
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