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热膨胀仪 DIL 402 Expedis Classic

热膨胀仪 DIL 402 Expedis Classic

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产品描述
参数
技术参数
应用领域

新款热膨胀仪 DIL 402 Expedis Select & Supreme 集成了热膨胀测量领域的最尖端技术,为宽广应用领域内的专业级的应用而设计。DIL Expedis 系列的所有型号均基于革命性的 NanoEye 测量系统,在测量范围与精度两方面达到了新的高度。

这一仪器是市面上第一种支持调制力(振荡型载荷)的水平式膨胀仪,通过这一方式,在热膨胀仪与热机械分析仪(TMA)、动态热机械分析仪(DMA)之间架起了桥梁。

Supreme 版配置全面、功能强大,Select 版则可灵活升级。这两个版本为研究开发、与专业化的工业应用量身定做。

NanoEye

每一纳米均纳入计算
量程与分辨率的新的标杆

对于传统的热膨胀仪,测试量程与分辨率这两个参数很难两全:高分辨率只能在很小的量程中实现;如果要得到较大量程,只能牺牲一定的分辨率。

新型自反馈光电位移测量系统 NanoEye 克服了这一技术上的矛盾,能够同时提供最高的分辨率、完美的线性度与无以匹敌的宽广量程。

工作原理

在测试过程中,当样品发生膨胀时,图中所有的绿色部分将在线性导轨(图中蓝色部分)的引导下向后移动,并由光学解码器测出相应的长度变化。

仪器特点

最高的灵活性与测样效率

仪器为双炉体结构,可同时安装两个不同的炉体,覆盖从180℃到2000℃的宽广的温度范围。另一配置方案是配备两个相同的炉体交替使用,再结合双杆样品支架、在双样品模式下进行测试,可以极大地缩短测样周期,提高仪器使用效率。

Expedis Select / Supreme 提供了众多的配置选择:单炉体 / 双炉体,手动 / 马达驱动的炉体操作,单 / 双样品支架,管状 / 杆状样品支架,等等等等。丰富的配置是为了适应各类应用场合。

 
 

自动长度测试与 MultiTouch

传统的热膨胀仪通常使用卡尺进行样品原始长度的测量,这可能增大测量结果的不确定性,特别对于柔软的样品。DIL 402 Expedis 可以在测试开始之前,在与测试本身等同的条件(顶杆接触位置、接触力)下自动测量样品的初始长度。

对于可靠的热膨胀测量,样品在样品支架内具有稳定的置放位置相当关键。DIL 402 Expedis 的 MultiTouch 功能使用独特的尾式顶样操作,自动将样品的置放位置调至最佳。

DIL 402 Expedis 的热电偶位置可以灵活调整,以适应不同的样品长度。通过导向杆,可将热电偶调整至与样品长短相匹配的合适的位置,无需弯曲热电偶。

支持 3 路外接气体;可连接到逸出气体分析

如果使用的是三路质量流量控制器(MFC,选件),气体路径在仪器内部是分开的:保护气先经过测量单元,然后进入样品室,而吹扫气(两路)则直接进入样品室,保护气和吹扫气都通过炉体的出气口排出。

DIL 402 Expedis 仪器炉体为真空密闭设计,配备的 SiC 炉体非常适合通过毛细管与 QMS 或者 FTIR 进行联用,在测试过程中对逸出的杂质、添加剂、有机粘合剂及分解产物进行深入研究分析。

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  • 温度范围:-180 ... 1600°C(常规,多种炉体可选);超高温版最高达 2800℃
  • 炉体数量:单炉体,或双炉体(不同配置)
  • 样品数:单样品,或双样品/差示系统(不同配置)
  • 升温速率:0.001 ... 50 K/min 或 100 K/min(不同炉体)
  • 测量系统:NanoEye
  • 样品支架:熔融石英或氧化铝,可自由更换。
  • 温度准确度:1 K
  • 温度精度:0.1 K
  • m.CTE(平均线膨胀系数)重复性:10-8 1/K
  • 测量范围:± 10000 μm / ± 25000 μm
  • 分辨率:0.1 nm / 1 nm(全量程)
  • 样品长度:0 ... 52mm(自动样品长度测量)
  • 负载力模式:恒定力,线性力,步阶力;调制力(可选)
  • 负载力范围:10 mN ... 3N
  • 气体控制:标配 1 路,可选 3 路或 MFC(质量流量计)
  • 气氛:惰性,氧化性,还原性,真空
  • 真空密闭设计,可选配全自动真空系统
  • 可选冷却系统:Vortex,液氮
  • OTS® 氧吸附系统(选件)

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