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博曼 XRF镀层测厚仪 B系列

B系列是常规机型，在没有特殊要求的前提下，该系列能满足大部分镀层产品的测量需求。B系列也是最畅销的一款台式测厚仪。

博曼 XRF镀层测厚仪 P系列

P系列采用的是自动样品台设计，能大大提高镀层产品的检测效率，更适合产线连续测量。该系列有三种样品台可供用户选择，其中加宽的样品台能满足线路板企业的测量需求。 P系列属于中高端系列。

博曼 XRF镀层测厚仪 G系列

G系列是上罩式机型，与其他机型的区别是该型号的X射线照射方式采用由上往下的设计，基础但全面的配置可以满足镀层产品的一般测量。 G系列是最具性价比的一款台式测厚仪。

博曼 XRF镀层测厚仪 O系列

O系列是毛细管机型，该机型搭载高端SDD探测器，可实现80um的测量斑点。 O系列可在短时间内满足极小斑点的测量的同时获取精准的测量结果（准确性和重复性）。

博曼 XRF镀层测厚仪 M系列

M系列是高端毛细管机型，该机型搭载高端SDD探测器，可实现极小的测量斑点（15um）。 M系列尤其适合ENIG,ENEPIG以及化学镍的%P分析。

博曼 XRF镀层测厚仪 L系列

L系列是大腔体机型，该机型样品仓尺寸是常规机型的6倍。L系列尤其适合大型镀件的检测。

博曼 XRF镀层测厚仪 W系列

W系列是高端毛细管机型，该机型是目前世界上使用XRF技术进行镀层厚度分析的最小光斑尺寸。可精准检测晶圆、引线框架等高精密产品的镀层厚度。

微焦斑 XRF 光谱仪 | FT, EA6000VX 和 X-Strata 系列

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