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蔡司FIB-SEM电子显微镜Crossbeam系列
蔡司Crossbeam系列专为高通量样品制备和3D分析而设计的FIB-SEM.
蔡司Crossbeam Laser飞秒激光-FIB解决方案: 针对原位三维分析，首先需要准确定位 ROI，通过对感兴趣区域进行针对性的前期刻蚀准备后，完成进一步的 3D 成像及分析。在您的蔡司 Crossbeam 上加装飞秒激光系统，可大幅度提升样品制备效率。
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